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聚乙烯與聚酯等樹脂薄膜（以下簡稱薄膜）的膜厚定量分析，是采用本公司獨立開發(fā)的，X 射線散 射理論計算結合 FP 法的「背景 FP 法」（以下簡稱 BG-FP 法）分析，得到較佳效果。此方法是根據(jù)樹脂 薄膜的康普敦散射的強度與薄膜厚度成比例的原理，在大氣氛圍中，不僅是薄膜的厚度，而且其中的元 素成分也能定量分析。
■樣品：
厚 6μm、12μm、25μm 的聚乙烯薄膜 ·
厚 200μm 的含無機元素聚酯薄膜
■定性分析-膜厚測定:
BG-FP 法是用測定 X 光管靶（Rh）的特征 X 射線， 產(chǎn)生的康普頓散射來進行樹脂薄膜厚度的定量分析。圖 1 為 3 種不同膜厚的聚酯薄膜的 RhKα康普頓散射線峰的 重疊顯示。薄膜厚度越大，RhKα康普頓散射強度越大。 表 1 為利用 BG-FP 法的膜厚定量分析結果。
計算膜厚必須知道薄膜密度。聚酯的密度為 1.39g/cm3。另外，假定薄膜成分為 C8H10O4。
膜厚·成分同時定量分析 含 Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn 的聚酯膜的膜厚及元素含量進行定量分析。 圖 2 為定量分析的峰形，以此結果為根據(jù)，利用 BG-FP 法計算出定量值，用面積密度 （30mmΦ）的換算值與標準值一并列入表 2。
■測定條件
儀 器：EDX-720
X 射線管：Rh 靶 濾 光 片：不用 電壓
電流：50kV-77μA(Auto) 50kV-446μA(Auto) 氣 氛：真空
